Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪技术参数: 热参数 温度范围: -10°至 350°C 探测器类型: 128 x 96 热敏元件焦平面阵列 (FPA) 非制冷微量热型探测器 准确度: ±2% 或 ±2ºC(取大者) 准确度(-10 至 0 C): +/- 3ºC 重复性: ±1% 或 ±1ºC(取大者) NETD: 200 mK 温度显示分辨率: 0.1 ºC
光学/红外 光谱范围: 7.5-14 微米 目标瞄准: 单波长激光点(符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求) 光学分辨率: 75:1 测量圆点*小直径: 8.1 mm(距离为 61cm 时) 图像帧速: 9 Hz 视场 (FOV): 20º 水平 x 15º 垂直 瞬时视场 (IFOV): 2.8 mrad
控制 焦点: 可聚焦,61 cm 至无穷远 温标: 可选择 ºC 调色板: 可选择灰色、反灰色、铁红或彩虹 测量模式: 可选择自动或手动 激光开/关: 随附 增益控制: 随附 级别控制: 随附 LCD 背光: 可选择亮或暗
操作 可调辐射系数: 0.10 至 1.00,步长 0.01 液晶显示: TFT 技术,适于室内及室外使用,70.5 mm x 53.5 mm 反射背景温度: -50 至 905ºC 操作环境温度: -10 至 50ºC 相对湿度: 10 至 90% 不结露 存放温度: -25 至 70ºC [不带电池] 存储能力: 50 张图像 激光开启图标: 随附 电池电量不足图标: 随附 测量模式图标: 随附 热分析软件: InsideIR(随附) PC 软件操作系统: Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®
电气 电源: 充电电池组(随附) 电池寿命: 至少连续使用 3 小时 数据传输: USB 接口,50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒 存储设备: 快速存储器
其它 三脚架(6.35 mm (1/4) 20 统一标准螺纹) 重量(包括电池): 1.2 kg 保修: 1 年 产地: 美国 撞击防护: 半正弦波,11 ms,30 g 峰值,符合 mil-prf-28800f 振动防护: - 随机 6G EMC: EN 61326-1
Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪标准配置:
Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪主机一台
InsideIR 软件(无限使用,无需另行付费)
沪公网安备 31011402005111号